
Phenom Particle Metric顆粒測試
簡要描述:Phenom Particle Metric顆粒測試以較快、較簡便的方式實現顆粒的可視化分析,是微觀顆粒分析技術的一大進步。快速、易用和超清晰圖像質量的Phenom飛納掃描電鏡,加上Particle Metric顆粒係統的顆粒圖像分析功能,為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。
產品型號:
所屬分類:掃描電鏡幹粉製劑顆粒檢測
更新時間:2024-12-26
廠商性質:其他
品牌 | 其他品牌 | 產地 | 國產 |
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產品新舊 | 全新 |
Phenom Particle Metric顆粒測試
Phenom World BV 顆粒測試係統Phenom Particle Metric
—— 研究顆粒和粉末的強大工具
ParticleMetric顆粒測試係統,以快、簡便的方式實現顆粒的可視化分析,是微觀顆粒分析技術的一大進步。快速、易用和超清晰圖像質量的Phenom飛納掃描電鏡,加上Particle Metric顆粒係統的顆粒圖像分析功能,為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。
基於飛納掃描電鏡的顆粒分析解決方案ParticleMetric能夠使用戶根據需要,隨時獲取所觀測顆粒的麵積、當量直徑、表麵積、外接圓直徑、比表麵積、周長、寬高比、充實度、伸長率、灰度等級、長軸、短軸長度(橢圓)、凸殼體、重心、像素點數、凸狀物等數據,終實現ParticleMetric加速顆粒物分析速度、提升產品質量的目的。
Phenom Particle Metric顆粒測試的功能
1. 可進行以下顆粒分析
l 顆粒尺寸範圍:100nm ~ 0.1mm
l 顆粒探測速度:高達1000個/分鍾
l 顆粒測量屬性:大小、形狀、數量
2. 可以測量的顆粒參數
l 麵積、當量直徑、表麵積、外接圓直徑、比表麵積、周長、寬高比
l 充實度、伸長率、灰度等級、長軸長度和短軸長度(橢圓)
l 凸殼體、重心、像素點數、凸狀物。
3. 可以提供的圖形顯示
l 按數量或體積的線性、對數、雙對數點狀圖
l 任何參數的散點圖
l 單個顆粒的SEM圖像
4. 可以提供的圖形輸出
l Word版本docx格式的報告,TIFF格式的圖像
l CSV文件,離線分析的項目文件(.PAME)Pro Suite的一部分
飛納掃描電鏡顆粒係統ParticleMetric軟件的優勢
1. 加載ParticleMetric軟件的飛納台式掃描電鏡能夠輕鬆生成並分析圖像,方便用戶采集超細顆粒的形貌信息和顆粒的尺寸數據;
2. 全自動的飛納掃描電鏡顆粒測試係統ParticleMetric軟件測量可以實現超出光學顯微鏡、更好景深的視覺效果,為用戶提供顆粒物的結構設計、研發和質量控製方麵的細節數據;
3. ParticleMetric軟件生成的柱狀圖、散點圖可以作為報告的內容按照格式輸出。任何柱狀圖都可以按照被測顆粒的不同屬性,生成數量柱狀圖和體積柱狀圖。散點圖可以按照任何一項顆粒的特性生成,以便揭示相關趨勢。
4. 直接由Phenom獲取圖像,識別並確認諸如破損顆粒、附著物和外來顆粒,關聯顆粒物的特征,比如直徑、充實度、縱橫比和凹凸度
5. 便捷的操作提升了工作效率並使計劃表簡單化和可視化
6. 無限製的圖像采集,可輕鬆存儲於網絡或優盤,便於共享、交流或以後參考
7. Phenom的易用性和對環境的良好適應力,用戶可以將試樣程度視覺化
8. 附有高清圖片的統計學數據。